讲座主题：电阻抗断层成像中的的正则化方法
讲座时间：6月23日15:00
特邀专家：吕锡亮，武汉大学珞珈特聘教授，2018年入选教育部“长江学者奖励计划”青年学者项目。曾多次前往香港中文大学，奥地利科学院RICAM研究所，罗马尼亚Iasi大学从事访问研究工作。目前已在Math. Comp., Numer. Math., SIAM J. Sci. Comput., Inverse Problems，Math. Program.等国际权威杂志发表论文30余篇，主持国家自然科学基金项目多项。
讲座内容：本次报告提出了一种电阻抗层析成像(EIT)的变分正则化方法。对于标量和矩阵系数，分别选择为H1 (TV)或L2函数作为罚函数。证明了正则化泛函的存在性和适定性。给出了有限元分析结果，并通过数值算例说明了该方法的有效性。
参与方式：2020/6/23 14:30-16:30 点击链接入会，或添加至会议列表：https://meeting.tencent.com/s/1IlI4oaupzKF 腾讯会议 ID：383 550 046 腾讯会议密码：200623
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