基于电致磁学二相色性(EMCD)的先进透射电子显微研究

密西根大学  Kai Sun 研究员

内容简介：磁学特性相较于力、热、光、电等物质基本属性，是最为神秘、应用广泛而深刻，人类对此认识却是最为有限一环。磁性起源探索根植于物理学最底层，磁性应用却在信息科学、电磁隐身乃至空间探索等衍领域硕果累累。无法直接观察纳米乃至更小尺度的物质磁性一直是制约材料磁学研究的瓶颈。透射电子显微电子磁致二向色性（EMCD）可在纳米尺度表征材料局部磁畴分布，分析磁性起源及界面磁相互作用。是基于TEM和电子能量损失谱分析的综合高级表征手段，运用该技术主要进行了如下研究：

1. 利用透射电子显微镜在TEM模式下测量GaMn准晶/GaMn四方相薄膜的磁性，通常情况下，室温下四方相有磁性，而准晶没有磁性；在注入一定量的Mn元素后，准晶表现出了磁性，并且仍然保持准晶结构。

2. 用双球差透射电子显微镜STEM-EELS模式对MgO/CrN/Fe/Ga磁性薄膜的铁磁性进行表征，用FIB制样技术，沿着Fe单晶薄膜两个正交的方向[100] 和[110]分别制备两个样品，测量在不同取向下磁畴的分布。

报告人简介：Kai Sun博士毕业于大连理工大学，之后在瑞典斯德哥摩尔大学阿累尼乌斯实验室和美国芝加哥诺伊大学做研究助理员，2003年以后一直在密西根大学电子微束分析实验室工作。具有20年透射电子显微分析经验，对各种材料包括金属和合金、绝缘材料、高分子材料，表面涂层，多层膜，生物材料等的电子显微镜分析有着丰富的经验。他已在Science, Nano Letters, and Advanced Materials等期刊发表190篇SCI论文，50多篇会议论文，并出版了2本专著，同时担任30多种国际期刊的审稿人。

报告时间：11月30日16:00
报告地点：物理电子学院204
主持人：祖小涛 教授